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1. 개요
2. 제원/성능
3. 악세서리
4. 시험 및 검사
5. 포장
6. 주의
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장 비 별 사 양 서
no.1
● 장비명 : ic 기능 시험셋
1.개요
pcb 진단과 수리 시스템으로 ttl, cmos, ecl, eia 그리고 3.3v로직 소자등 다양한 레벨을 가진 ic및 부품들을 pcb에서 분리하지 않고 불량 부품을 검출 할 수 있고 교체할 부품의 단품 검사에도 가능2.제원/ 성능

디지털 테스트 성능
drive/sense 채널 : 기본 48채널, 카드당 16채널로 최대 96채널 까지 확장 가능
drive/sink 용량 : 채널당 650ma
drive 전압 레벨 :-10 에서 10v (40mv간격으로 설정)
sense threshold :-10 에서 10v (80mv간격으로 설정)
메모리 : 각 드라이버 당 8k x 2 ram
데스트 속도 : 16 스텝으로 최대 2usec에서 16msec까지 설정 가능
dut 전원 공급 : 5v @7 amps,-5v@-0.5amps, ,-12v@-0.7amps 프로그램 설정에 따라 자동 스위치 on/off
아날로그 테스트 성능   (이하 생략)
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• 출판사 : 도서출판 예스폼 • 파일형태 : 파일(hwp/pdf)
• 발행일 : 2019년 4월 • 페이지수 : 1,278 page
• 도서형태 : 도서파일(다운로드상품)
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