장비별사양서 
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| 장 비 별 사 양 서 no.1 ● 장비명 : ic 기능 시험셋 1.개요 pcb 진단과 수리 시스템으로 ttl, cmos, ecl, eia 그리고 3.3v로직 소자등 다양한 레벨을 가진 ic및 부품들을 pcb에서 분리하지 않고 불량 부품을 검출 할 수 있고 교체할 부품의 단품 검사에도 가능2.제원/ 성능 디지털 테스트 성능 drive/sense 채널 : 기본 48채널, 카드당 16채널로 최대 96채널 까지 확장 가능 drive/sink 용량 : 채널당 650ma drive 전압 레벨 :-10 에서 10v (40mv간격으로 설정) sense threshold :-10 에서 10v (80mv간격으로 설정) 메모리 : 각 드라이버 당 8k x 2 ram 데스트 속도 : 16 스텝으로 최대 2usec에서 16msec까지 설정 가능 dut 전원 공급 : 5v @7 amps,-5v@-0.5amps, ,-12v@-0.7amps 프로그램 설정에 따라 자동 스위치 on/off 아날로그 테스트 성능 (이하 생략) |
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